• Hrvatski (HR)
  • English (UK)
 

Glavni izbornik

  • Vijesti
  • O projektu
  • Suradnici
  • Laboratorijska oprema
  • Kontakt

Vijesti

Sudjelovanje na SIMS Europe konferenciji

Robert Peter je sudjelovao na SIMS Europe 2016 konferenciji, održanoj od 18. - 20. 9. 2016. godine na Sveučilištu Munster, Njemačka,  gdje je predstavio rezultate istraživanja u sklopu projekta SIZIF na posteru s naslovom Coating of nitinol surface by titanium dioxide films grown by atomic layer deposition.

Potpisani sporazumi o suradnji

U okviru projekta SIZIF potpisana su dva nova sporazuma o suradnji,  jedan s Inštitutom za kovinske materiale in tehnologije (http://www.imt.si/) iz Ljubljane, a drugi s linijom BEAR (Bending Magnet for Emission Absorption and Reflectivity - http://www.elettra.trieste.it/elettra-beamlines/bear.html) , IOM-CNR (Istituto Officina dei Materiali- Consiglio Nazionale delle Ricerche) na sinkrotronu Elettra u Trstu.

Mjerenja na sikrotronu Elettra u Trstu

Ivna Kavre Piltaver, Iva Šarić, Robert Peter i Mladen Petravić odradili su od 20. do 23. 9. i od 3. do 5. 10. 2016. godine ukupno 15 smjena na sinkrotronu Elettra u Trstu na liniji BEAR, u sklopu projekta 20155116 pod nazivom Investigation of TiO2 thin films for biomedical and environmental applications.
 

Sudjelovanje na 24. ICM&T konferenciji u Portorožu

Ivna Kavre Piltaver i Ivana Jelovica Badovinac sudjelovale su na 24. međunarodnoj konferenciji o materijalima i tehnologiji, održanoj od 28. do 30. 9. 2016. godine u Portorožu, Slovenija.
Internet stranica konferencije: http://icmt24.com/en/

Na konferenciji je predstavljen rad pod nazivom Oxidation of molybdenum by low energy ion bombardment.

Program i knjiga sažetaka može se pogledati ovdje.

Sudjelovanje na 16. međunarodnoj konferenciji o ALD-u

Iva Šarić i Mladen Petravić su sudjelovali na 16. međunarodnoj konferenciji o depoziciji atomskih slojeva (The 16th International Conference on Atomic Layer Deposition - ALD 2016) održanoj od 24. do 27. srpnja 2016. godine u Dublinu. Na konferenciji su predstavili rezultate istraživanja ostvarene u sklopu projekta SIZIF: On crystalline structure of TiO2 films grown by plasma-enhanced atomic layer deposition.
 

Predstavljanje projekta u Splitu

Predstavljanje projekta SIZIF u Splitu: Iva Šarić, Ivna Kavre Piltaver i Robert Peter su u utorak, 12. srpnja 2016. godine s početkom u 11 sati na Prirodoslovno-matematičkom fakultetu u Splitu predstavili projekt SIZIF i rezultate projekta.
Više možete saznati na stranici http://www.pmfst.unist.hr/blog/2016/07/08/predstavljanje-projekta-sizif/
 

Predstavljanje projekta na Institutu za fiziku

Predstavljanje projekta SIZIF u Zagrebu: Iva Šarić, Ivna Kavre Piltaver i Robert Peter su 27. lipnja 2016. godine u dvorani Mladen Paić na Institutu za fiziku u Zagrebu predstavili projekt SIZIF i ostvarene rezultate projekta. 
Više o posjeti možete pročitati putem linka http://www.ifs.hr/activities/1807-2/2016-sizif/
 

Usavršavanje u SIMS tehnici

Dr. sc. Robert Peter je od 10. travnja do 26. svibnja boravio kao gostujući istraživač u Centru za znanost o materijalima i nanotehnologiju (Center for Material science and Nanotechnology) na Sveučilištu u Oslu zbog usavršavanja u SIMS tehnici (Secondary Ion Mass Spectrometry, Masena spektrometrija sekundarnih iona) i različitim istraživanjima koja se tom tehnikom mogu ostvariti.
 

Sudjelovanje na konferenciji u Portorožu

Dr. sc. Iva Šarić je sudjelovala na konferenciji the 16th Joint Vacuum Conference / 14th European Vacuum Conference / 23th Croatian Slovenian International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique, održanoj od 6. do 10. 6. 2016. godine u Portorožu, Slovenija.

Internet stranica konferencije: http://www.jvc-evc-2016.org/

Na konferenciji je predstavljen poster s naslovom Investigation of residual chlorine in TiO2 films grown by Atomic Layer Deposition.

Program i knjiga sažetaka -JVC16_EVC14 (Portorož_2016)

Usavršavanje u SEM tehnici

Dr. sc. Ivna Kavre Piltaver je od 7. rujna do 23. listopada boravila u Ljubljani (Slovenija) zbog usavršavanja na SEM tehnici (Scanning Electron Microscope, Pretražni elektronski mikroskop). U tom razdoblju se upoznala s radom u mikroskopskim laboratorijima na različitim fakultetima i institutima.


Opširnije...

Stranica 1 od 2

« PočetakPrethodno12SlijedećeKraj »

Kontakt

Centar za mikro i nano znanosti i tehnologije
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka, Hrvatska
 
Voditelj projekta SIZIF:
Prof. dr. sc. Mladen Petravić
Tel: +385 51 584 760
Fax: +385 51 584 649
e-mail: Ova e-mail adresa je zaštićena od spambota. Potrebno je omogućiti JavaScript da je vidite.
 
Stručni suradnik za upravljanje projektom SIZIF:
Patricia Petrović, mag.oec.
Tel: +385 51 406 525
Fax: +385 51 406 588
e-mail: Ova e-mail adresa je zaštićena od spambota. Potrebno je omogućiti JavaScript da je vidite.




 




Projekt je sufinancirala Europska unija iz Europskog socijalnog fonda.
Sadržaj ove stranice isključiva je odgovornost Sveučilišta u Rijeci, Centra za mikro i nano znanosti i tehnologije.

Copyright © 2010 Sveučilište u Rijeci / University of Rijeka • Adresa: Trg braće Mažuranića 10, 51000 Rijeka • E: ured@uniri.hr • T: +385 (0)51 406-500 • F: +385 (0)51 406-588