Laboratorijska oprema
Koristimo opremu Laboratorija za fiziku površina i materijala, zajedničkog laboratorija Odjela za fiziku i Centra za mikro i nano znanosti i tehnologije Sveučilišta u Rijeci:- Uređaj za depoziciju atomskih slojeva (Atomic Layer Deposition, ALD)
- Uređaj za rendgensku fotoelektronsku spektrometriju (X-ray Photoelectron Spectrometer, XPS)
- Maseni spektrometar sekundarnih iona (Secondary Ion Mass Spectrometer, SIMS)
- Pretražni elektronski mikroskop (Scanning Electron Microscope,SEM)
- Oprema za pripremu SEM uzoraka
Kontakt
Centar za mikro i nano znanosti i tehnologije
Radmile Matejčić 2
51000 Rijeka, Hrvatska
Voditelj projekta SIZIF:
Prof. dr. sc. Mladen Petravić
Tel: +385 51 584 760
Fax: +385 51 584 649
e-mail: Ova e-mail adresa je zaštićena od spambota. Potrebno je omogućiti JavaScript da je vidite.
Stručni suradnik za upravljanje projektom SIZIF:
Patricia Petrović, mag.oec.
Tel: +385 51 406 525
Fax: +385 51 406 588
e-mail: Ova e-mail adresa je zaštićena od spambota. Potrebno je omogućiti JavaScript da je vidite.
